如果发现某个样品测的不太好，还可以当场重新测试。
    不然，万一有一个关键数据有问题，需要重新测试，那就要等待下次光源机时，这可能要一个多月的时间。
    许秋首先处理1#和2#样品的数据，这两个样品是基于光电性能最佳的体系。
    分别为PBFBT4T-2OD单独组分薄膜，以及它与PCBM受体的共混薄膜。
    数据处理完毕。
    1#样品的背景是干净的亮蓝色，样品信号主要出现在横轴、纵轴上。
    纵轴上的信号有三处，也就是垂直于基片表面的结晶信号，对应着晶面指数（100）、（200）和（300），位置约为0.27、0.54和0.81埃的负一次方。
    横轴上的信号只有一处，也就是基片表面上的结晶信号，对应着晶面指数（010），位置约为1.60埃的负一次方。
    而2#样品同样出现了1#样品的全部样品信号，只是相对1#样品弱了一些。
    此外，还出现了属于PCBM的环状信号，大约位于1.40埃的负一次方。
    这表明PBFBT4T-2OD材料，是标准的fa结构，电荷载流子容易在垂直方向上输运，这样的材料就非常适
 <本章未完请点击"下一页"继续观看!>