件性能的实际影响，并没有之前龚远江说的那么夸张。
    莫文琳说的也没错，可能确实是她这批器件没做好，当然，这是她第三次制备器件，做的差了一些，也情有可原。
    这个效率衰减姑且算是坏消息，剩下的就全都是好消息了。
    一方面，用新ITO图案制备的器件，理论上一片器件可以得到无数个结果点，每次测试的时候，遮挡板换一下位置，就是一个新的电池器件。
    而单次制备器件获得的数据量变多，可以降低器件制备次数，之前要做10批、15批的器件才能得到的结果，现在可能只需要5批、8批，可以缩短实验所用时间。
    另一方面，考虑到同一器件上不同位置处的薄膜厚度以及共混形貌有些许差异，在器件不同位置进行测试，其实也是一种对制备条件的摸索过程，类似于之前的调控旋涂转速的操作。
    此外，在冲刺效率的时候，还可以用小尺寸0.01平方厘米的结果。
    就像在这次摸索过程中，虽然0.09平方厘米的大尺寸效率结果平均降低6%左右，但是0.01平方厘米的效率结果反而平均上扬了3%左右。
    导致许秋直接打破了自己之前的记录，H43:IT-4F体系的最高效
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