纳米级别样品厚度测试手段，其他手段还包括椭偏仪、台阶仪、原子力显微镜等等。
    SEM测试厚度的原理是扫描样品的断裂面，直接读出厚度信息，具体实验方法，就是先把样品旋涂在玻璃片上，然后用玻璃刀将基底从中间划开，接着再掰断，最后用SEM扫描、拍照。
    当然，这个方法也是有限制的。
    如果采用这个方法，测试一百纳米级别的薄膜，问题不大，但如果是几纳米的薄膜，难度相对就比较大了，因为基本上达到了SEM的分辨率极限，尤其材一一楼的SEM还是早期快被淘汰的产品，分辨率就更差了。
    于是，许秋故意涂了两片厚厚的ITIC和IDIC“薄膜”，其中，IDIC属于未雨绸缪，今天虽然用不上，但之后肯定能够用得上。
    根据旋涂是溶液的浓度和转速，许秋初步估计，两者的膜厚应该都超过了100纳米，反正现在又不是在制备器件，只要保证薄膜是均匀的即可。
    SEM测试，顺利完成。
    晚上，许秋拿到了最终的拟合结果，ITIC的激子扩散距离为14.4纳米。
    这个结果比较符合他的预期，属于意料之中的结果。
    根据文献报道，标样P3HT材
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